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★딴사관 서포터즈 기자단★

[#딴사관서포터즈] MOS Capacitor, Oxide내 Trap이 Vth에 미치는 영향

Gate Oxide의 Charge Trap은 MOSFET에서 Vth의 영향을 미칠 정도로 매우 중요한 요소랍니다! 오늘 하루도 모두 고생 많으셨습니다!!! 충성!

2023. 6. 20. 21:36

반도체사관학교 훈련과정/평가 및 분석

[평가 및 분석] "NBTI, PBTI, HCI에 대해서 설명해보세요"

[질문 1]. NBTI, PBTI, HCI에 대해서 설명하세요. Keyword : [NBTI, PBTI, HCI, 열화, 신뢰, stress] NBTI는 Negative Bias Thermal Instability의 약어로 게이트에 Negative bias를 인가했을 때, 소자가 on 상태가 되는 PMOSFET의 열화현상을 말합니다. PBTI는 반대로 Positive bias를 인가했을 때, NMOSFET의 열화현상을 의미하고 HCI는 Hot Carrier Injection으로 소자 dimension이 작아짐에 따라 강해진 전계에 의해 가속화된 캐리어에 의한 열화 현상입니다. 보통 열화현상은 물리적 현상에 의해서 원하는 design 공정, 의도된 performance가 나오지 않고 degradation ..

2022. 1. 24. 20:30